【48812】锂电常识必备（9）——透射电子显微镜（TEM）

  年，德国柏林工业大学高压实验室的卡诺尔和卢卡斯成功试制成功电子显微镜，这是世界上第一台透射电镜。

  相较于扫描电镜，透射电镜具有更高的分辩率。不光能够用衍射形式来研讨晶体的结构，还能够在成像形式下得到样品的高分辩像，得到资料的微观结构。

  透射电镜和扫描电镜相同，使用聚集电子束作为照明源，不同的是，透射电镜是以透射电子为成像信号，而扫描电镜是以二次电子、背散射电子等为成像信号（如下图所示）。

  因为透射电镜样品需求很薄，大部分电子会穿透样品，其强度散布与所调查样品的描摹、安排、结构一一对应。透过样品后的电子束经物镜会聚调焦和初级扩大后，电子束进入下级的中心透镜和第1、第2投影镜做归纳扩大成像，终究被扩大的电子像投射在调查室内的荧光屏板供使用者调查。图画的明暗与样品的原子序数、电子密度、厚度等相关。

  透射电镜依照加快电压分类，可分为低压透射电镜（＜200KV），高压透射电镜（200~400KV）和超高压透射电镜（＞400KV）。依照分辩率可分为低分辩率和高分辩率透射电镜。

  为了便利对透射电镜与扫描电镜的结构比较，我们可参阅下面这个简略图（其间，样品方位不同是很大的不同点）。

  LiNi0.9Co0.1O2的TEM及相应的元素散布（图片来自：孔德飞硕士论文）

  SnO2纳米单晶HRTEM（高分辩率透射电镜）图（图片来自：梁英博士论文）